負(fù)載調(diào)整率是衡量電源好壞的重要指標(biāo)，它反映的是當(dāng)負(fù)載電流變化時(shí)，穩(wěn)壓電源輸出電壓相應(yīng)的變化情況。好的電源負(fù)載變化時(shí)引起的輸出變化較小，通常是在3%-5%。負(fù)載調(diào)整率是電源模塊測(cè)試的一個(gè)重要步驟，今天納米軟件將為大家介紹負(fù)載調(diào)整率測(cè)試的具體方法。

　　負(fù)載調(diào)整率，即LOAD REGULATION，電源負(fù)載的變化會(huì)引起電源輸出的變化，負(fù)載增加，輸出降低，相反負(fù)載減少，輸出會(huì)升高。負(fù)載調(diào)整率測(cè)試是為了測(cè)試 S.M.P.S.在AC LINE一定而OUTPUT LOAD變動(dòng)時(shí)，輸出電壓隨之變動(dòng)的穩(wěn)定性。

　　如何測(cè)試電源模塊負(fù)載調(diào)整率？

　　測(cè)試電源模塊負(fù)載調(diào)整率時(shí)需要準(zhǔn)備一臺(tái)交流電源、電子負(fù)載和數(shù)字式電壓表，測(cè)試條件如下：

　　1.依規(guī)格設(shè)定測(cè)試負(fù)載LOAD條件

　　2.調(diào)整輸入電壓AC LINE和頻率FREQUENCY值

　　3.記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)

　　4.Line reg.=(輸出電壓的最大值(Vmax.)-輸出電壓的最小值(Vmin.))/Vrate volt.*100%

　　注意事項(xiàng)：

　　1.測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)，待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試

　　2.電壓調(diào)整率值是輸出負(fù)載不變，輸入電壓變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值

　　納米軟件ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

　　1.0代碼開發(fā)，指令封裝，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試流程可以快速搭建

　　2. 測(cè)試項(xiàng)目支持調(diào)試，可以修改、復(fù)用、導(dǎo)出、刪除等，也可以給測(cè)試項(xiàng)目設(shè)置標(biāo)簽，方便查找

　　3. 方案運(yùn)行界面可以一鍵運(yùn)行測(cè)試，以指標(biāo)形式反饋測(cè)試結(jié)果

　　4. 支持多維度、多層級(jí)數(shù)據(jù)分析，圖表化數(shù)據(jù)分析，數(shù)據(jù)情況一目了然

　　5. 數(shù)據(jù)報(bào)告支持自定義，模板多樣，支持word、excel格式導(dǎo)出

　　6. 多工位靈活擴(kuò)展，可以同步并行測(cè)試

　　7. 批量測(cè)試功能可以減少測(cè)試時(shí)間

　　8. 移動(dòng)端可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)試數(shù)據(jù)情況

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